納米粒度分析儀
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產(chǎn)品名稱:
納米粒度分析儀
產(chǎn)品型號:
SD-NANOTRAC FLEX
產(chǎn)品展商:
圣達(dá)儀器
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡單介紹
NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)（DLS），引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念，快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布，外置固定式光學(xué)探頭滿足任何應(yīng)用需求。
納米粒度分析儀 的詳細(xì)介紹
真正的180° 動(dòng)態(tài)光背散射測量技術(shù)
探頭設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)只需要一滴液體滴在探頭的頂部進(jìn)行測量（圖1）， 這樣測量只需*小的樣品量2μl。探頭同時(shí)也適合1.5mL Eppendorf 管（圖2）。對于NANOTRAC FLEX 來說，每個(gè)容器都可以用作測量池（圖3），不需要任何的比色皿。NANOTRAC FLEX 的探頭設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)在一個(gè)反應(yīng)過程中離線或在線監(jiān)測顆粒的粒徑變化。在反應(yīng)中，分散相通常處于是流動(dòng)或攪拌中， 分散相的運(yùn)動(dòng)將會(huì)掩蓋布朗運(yùn)動(dòng)，在這種情況下用DLS測量幾乎不可能的，為了測量攪拌中或流動(dòng)的液體，Microtrac研發(fā)了一款FlowGuard探頭（圖4），F(xiàn)lowGuard探頭是在原來的探頭周圍加了PTFE 外殼, 它可以防止測量表面受到湍流的影響，外殼上孔口能夠確保樣品不停的交換，在探頭的界面處同時(shí)減緩攪拌的運(yùn)動(dòng)速度。這種設(shè)計(jì)確保測得懸浮液粒度分布的準(zhǔn)確性和代表性。NANOTRAC FLEX探頭在測量任何類型樣品時(shí)都非常容易和快速的清洗。
此款納米粒度儀可以配合剛上市的Zeta電位分析儀STABINO ZETA使用，能夠?qū)崿F(xiàn)不同溶液環(huán)境下的粒度測量以及Zeta電位測量。通過自動(dòng)滴定的方式能夠快速的對不同配方的穩(wěn)定性進(jìn)行評價(jià)，主要應(yīng)用如下：
· pH滴定
- 確定等電點(diǎn)
- 確定穩(wěn)定的pH區(qū)間
· 聚電解質(zhì)滴定
-穩(wěn)定性
-表面電荷密度/總的電荷量
· 鹽滴定
-Zeta電位和穩(wěn)定性
· 分散劑的滴定
- 優(yōu)化分散劑用來
· 制劑配方
- 用添加物滴定
兩者既可以合在一起使用也可以分開單獨(dú)使用
產(chǎn)品參數(shù)
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測量范圍
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0.3nm-10μm
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*小樣品量
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2 μl
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樣品濃度
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＜40 vol.%
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具有濃度測量功能
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實(shí)驗(yàn)室/在線測量
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?
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